SiriusSD系列硅漂移探测器
SiriusSD系列硅漂移探测器采用电制冷技术，探测器与脉冲处理电子学系统轻松对接，可在很宽的输入计数率范围内出色、稳定地工作。窗口可选用8µm铍窗或聚合物薄膜 (轻元素)，半导体传感器有效面积可提供10mm² 和 30mm²，传感器厚度500µm (有效厚度450µm)，适用于EDX、XRF等系统。
前置放大器提供工业标准的ramp/restore信号，可直接输入绝大部分模拟或数字脉冲处理系统。这种操作模式的优点还有能峰质心非常稳定，分辨率随计数率呈函数关系变化。使用一个单独的电源单元，同时可配套提供深受用户好评的紧凑式数字脉冲处理器系统。
SiriusSD分辨率高，稳定性好，在微量分析应用和X荧光分析应用中对轻元素有很好的响应。以下是能够体现SiriusSD主要新能和优点的一些插图：
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SGX硅漂移探测器能够达到的最高能量分辨率为123eV，在优化操作后峰值时间可减小至1.6us，在输入计数率大范围变化情况下，分辨率和峰值保持稳定。SiriusSD® 系列硅漂移探测器典型规格有:
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型号
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传感器面积
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窗选择
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分辨率 eV (Mn K/C)
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SiriusSD-10133
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10mm²
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轻元素(AP3.3) 或8µm Be
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<133 / 65
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SiriusSD-10128
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10mm²
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轻元素(AP3.3) 或8µm Be
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<128 / 52
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SiriusSD-30138
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30mm²
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轻元素(AP3.3) 或8µm Be
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<138 / 70
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SiriusSD-30133
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30mm²
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轻元素(AP3.3) 或8µm Be
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<133 / 70
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探测器维修和升级服务
SGX作为国际领先的探测器维修、升级专家，赢得业界的广泛认可，可对各种品牌的液氮制冷EDX和EDXRF探测器进行维修升级。SGX采用最高质量的内部设计，并生产Si(Li)晶体、FETs和前放等传感器组件。能力和服务主要有：维修现有探测器（各种品牌的各种型号）和对现有探测器进行性能升级。具体包括：
晶体－可对现有晶体进行升级处理，或者采用SGX的晶体对原有晶体进行替换，达到提供最佳分辨率和性能的目的。
FET－SGX独立设计低噪音场效应管，采用电子重建技术和芯片集成架构，确保实现晶体的最佳性能。
窗－可提供和安装各类X射线窗，如铍窗和轻元素检测用的聚合物窗。
前置放大器－可提供前置放大器和电缆的替代产品，确保与现有的电子学系统完全兼容。
SiriusSD 硅漂移探测器升级服务
SDD较Si(Li)具有很多优势。电制冷免去了适时添加液氮的麻烦；分辨率较少受高计数的影响，具有高转换率、超高速的特点，可以得到高质量的元素面分析图。虽然SDD能谱仪对轻元素的探测相对于Si(Li)能谱仪稍逊风骚，但瑕不掩瑜。Si(Li)逐步被SDD取代已经成为一种必然的趋势。
SGX公司对原有的SiriusSD系列SDD进行发展得到新产品，可用于替换现有EDS系统中的Si（Li）探测器。新产品采用最新的SDD技术，可与目前绝大部分EDS系统兼容，不受生产年代和生产商的限制，能有效提高性能、效率，同时降低运行成本。
利用SGX升级套件，通过将现有EDS微分析系统上的Si（Li）探测器替换为最先进的SDD探测器，能够简单可靠地对现有系统进行升级。升级套件为将探测器安装到SEM上预备了完整的解决方案，确保与目前绝大部分EDS系统兼容，新的SDD探测器配备电源、线缆、完整安装指南和用户使用手册。
SGX SiriusSD系列SDD探测器升级产品主要优点
l SiriusSD能够替代现有EDS平台上使用的各种品牌的Si（Li）探测器。
l 合并和承载了最新SDD技术的所有优点。
l SiriusSD提高了分辨率和计数率能力，低能灵敏度好，样品通量更快。
l 无需液氮冷却，维护成本低。使用灵活，操作简单。
l 保留原来软件，熟悉EDS电子学系统就不需要新的培训。
l SGX凭借强大可靠的技术实力，全球销量超过1000台，产品品质值得信赖。
l 经验丰富的工程师提供产品安装和技术支持服务。
SGX SiriusSD升级探测器典型规格
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型号
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传感器面积
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窗
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典型 P/B
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分辨率 eV (Mn/C)
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SiriusSD-U10133
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10mm²
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UTW轻元素或8µm Be
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>10k
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133 / 65
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SiriusSD-U10128
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10mm²
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UTW轻元素或8µm Be
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>10k
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128 / 52
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SiriusSD-U30133
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30mm²
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UTW轻元素或8µm Be
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8-10k
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133 / 68
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[产品手册]